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chaiba sidahmed
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Electrotechnique
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Eddy current probe parameters identification using a genetic algorithm and simultaneous perturbation stochastic approximation
SA Chaiba, A Ayad, D Ziani, Y Le Bihan, M Javier Garcia
Journal of Nondestructive Evaluation 37 (3), 55, 2018
52018
Method for measuring a wall thickness of a hollow vane
Y Le Bihan, O Lespinet, A Mourenko, FPDV Panizzoli, DMB Placko, ...
US Patent 6,806,703, 2004
42004
Measurement of wall thicknesses particularly of a blade, by eddy currents
PY Joubert, Y Le Bihan, O Lespinet, A Mikic
US Patent 7,550,968, 2009
32009
Contactless measurement of the conductivity of semiconductors using a multicarrier frequency test signal
D Mencaraglia, Y Le Bihan, F Loete
US Patent 10,429,435, 2019
2019
3D finite element method applied in nondestructive testing for multilayer plates
CS Ahmed, A Ayad, Y Le Bihan
5ème Colloque sur l’Inductique, 3-4, 2017
2017
El sistema no puede realizar la operación en estos momentos. Inténtalo de nuevo más tarde.
Artículos 1–5