Crea el meu perfil
Accés públic
Mostra-ho tot20 articles
1 article
disponibles
no disponibles
Es basa en els requisits de les agències que proporcionen el finançament
Coautors
- Stephen R ForrestProfessor, EECS, MS&E and Physics, University of MichiganCorreu electrònic verificat a umich.edu
- Brendan T. O'ConnorProfessor, North Carolina State UniversityCorreu electrònic verificat a ncsu.edu
- Matthew E. SykesUbiquitous Energy, Inc.Correu electrònic verificat a ubiquitous.energy
- Nicholas A. KotovUniversity of MichiganCorreu electrònic verificat a umich.edu
- Jinsang KimProfessor of Materials Sci & Eng, University of MichiganCorreu electrònic verificat a umich.edu
- David C. MartinKarl W. and Renate Böer Professor of Materials Science and Engineering and Biomedical EngineeringCorreu electrònic verificat a udel.edu
- Jihua ChenCenter for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National LabCorreu electrònic verificat a ornl.gov
- Enrique IglesiaUniversity of California at Berkeley, Purdue UniversityCorreu electrònic verificat a berkeley.edu
- David G BartonR&D Leader, The Dow Chemical CompanyCorreu electrònic verificat a dow.com
- Adam BaritoNanoFlex Power CorporationCorreu electrònic verificat a nanoflexpower.com
- Pei-Cheng KuProfessor of electrical engineering and computer science, University of MichiganCorreu electrònic verificat a umich.edu
- John L. VolakisProfessor, Florida International UniversityCorreu electrònic verificat a fiu.edu
- Daniel E. WilcoxUniversity of MichiganCorreu electrònic verificat a umich.edu
- Denis NothernMIT Lincoln LaboratoryCorreu electrònic verificat a ll.mit.edu
- Vladimir A. StoicaMaterials Research Institute, Pennsylvania State UniversityCorreu electrònic verificat a psu.edu
- Christian SchlepützSwiss Light Source, Paul Scherrer InstitutCorreu electrònic verificat a psi.ch
- Randall L. HeadrickProfessor of Physics, University of VermontCorreu electrònic verificat a uvm.edu
- Michael L. FalkProfessor of Materials Science and Engineering, Johns Hopkins UniversityCorreu electrònic verificat a jhu.edu