Crea el meu perfil
Accés públic
Mostra-ho tot1 article
0 articles
disponibles
no disponibles
Es basa en els requisits de les agències que proporcionen el finançament
Coautors
- John R. SmithIBM T. J. Watson Research CenterCorreu electrònic verificat a us.ibm.com
- Lexing XieAustralian National UniversityCorreu electrònic verificat a anu.edu.au
- Sudheendra VijayanarasimhanGoogle Inc.Correu electrònic verificat a cs.utexas.edu
- Jelena TešićTexas State UniversityCorreu electrònic verificat a txstate.edu
- Balakrishnan VaradarajanSoftware Engineer, Google ResearchCorreu electrònic verificat a google.com
- George TodericiGoogle, Inc.Correu electrònic verificat a google.com
- Ching-Yung LinIBM Chief Scientist, Graph ComputingCorreu electrònic verificat a us.ibm.com
- Murray CampbellIBM ResearchCorreu electrònic verificat a us.ibm.com
- John R. KenderProfessor of Computer Science, Columbia UniversityCorreu electrònic verificat a cs.columbia.edu
- Belle TsengSenior Manager at AppleCorreu electrònic verificat a alum.mit.edu
- Karen SimonyanChief Scientist, Microsoft AICorreu electrònic verificat a microsoft.com
- Will KayProduct Manager, Isomorphic LabsCorreu electrònic verificat a google.com
- Andrew ZissermanUniversity of OxfordCorreu electrònic verificat a robots.ox.ac.uk
- João CarreiraGoogle DeepMindCorreu electrònic verificat a google.com
- Joonseok LeeGoogle Research, Seoul National UniversityCorreu electrònic verificat a google.com
- Gang HuaCTO, Convenience BEE; Chief Scientist of Wormpex AI Research, IEEE & IAPR FellowCorreu electrònic verificat a bianlifeng.com
- Jeffrey S. VitterDistinguished Professor Emeritus of Computer & Information Science and Chancellor of the Univ. ofCorreu electrònic verificat a OleMiss.edu
- Shih-Fu ChangProfessor of Electrical Engineering and Computer Science, Columbia UniversityCorreu electrònic verificat a columbia.edu
- Michele MerlerIBM TJ Watson Research CenterCorreu electrònic verificat a cs.columbia.edu
- Chung-Sheng LiTaiwan Semiconductor Manufacturing Company LimitedCorreu electrònic verificat a ieee.org