Francisco Yubero

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Coautores

Agustin R. Gonzalez-ElipeResearch Professor of CSIC at the Instituto de Ciencia de Mataeriales de SevillaDirección de correo verificada de icmse.csic.es
Sven TougaardProfessor of physics, University of Southern DenmarkDirección de correo verificada de sdu.dk
Angel BarrancoSenior Scientist, CSIC, Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS-CSIC-US)Dirección de correo verificada de csic.es
Jorge Gil-RostraICMSE-CSICDirección de correo verificada de icmse.csic.es
José Cotrino BautistaUniversidad de SevillaDirección de correo verificada de us.es
Juan Pedro HolgadoConsejo Superior de Investigaciones CIentíficasDirección de correo verificada de icmse.csic.es
Sanz JMretired Applied Physics Department Universidad Autónoma de MadridDirección de correo verificada de uam.es
Carmen López SantosUniversidad de Sevilla / Instituto de Ciencia de Materiales de SevillaDirección de correo verificada de us.es
Ana BorrásSevilla, Thun, CSIC, EMPADirección de correo verificada de icmse.csic.es
Alfonso CaballeroUniversidad de SevillaDirección de correo verificada de us.es
Rafael AlvarezDepartamento de Física Aplicada I. Escuela Politécnica Superior. Universidad de Sevilla.Dirección de correo verificada de us.es
Puértolas JAProfessor of Materials Science and Technology. Universidad de ZaragozaDirección de correo verificada de unizar.es
Leonardo SorianoProfessor in Applied PhysicsDirección de correo verificada de uam.es
Marco FinazziProfessor of Physics, Physics Department - Politecnico di Milano, ItalyDirección de correo verificada de fisi.polimi.it
Alberto PalmeroPhD in Physics. Tenured Researcher at CSICDirección de correo verificada de csic.es
Pablo Romero-GómezUniversity of MalagaDirección de correo verificada de uma.es
maurizio sacchiCNRS - Institut des NanoSciences de ParisDirección de correo verificada de synchrotron-soleil.fr
Alejandro GutierrezProfessor of Applied Physics, Universidad Autonoma de MadridDirección de correo verificada de uam.es
Javier MéndezInstituto Ciencia de Materiales de MadridDirección de correo verificada de icmm.csic.es
Jaime Esteban MorenoClinical microbiologistDirección de correo verificada de fjd.es

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Francisco Yubero

Tenured scientist

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electron spectroscopy surface science thin films


Título Ordenar por citas Ordenar por año Ordenar por título	Citado por Citado por	Año
Model for quantitative analysis of reflection-electron-energy-loss spectra F Yubero, S Tougaard Physical Review B 46 (4), 2486, 1992	315	1992
Determination of the Cu 2p primary excitation spectra for Cu, Cu2O and CuO N Pauly, S Tougaard, F Yubero Surface science 620, 17-22, 2014	220	2014
Model for quantitative analysis of reflection-electron-energy-loss spectra: Angular dependence F Yubero, JM Sanz, B Ramskov, S Tougaard Physical Review B 53 (15), 9719, 1996	206	1996
Electron inelastic mean free path for Ti, TiC, TiN and TiO₂ as determined by quantitative reflection electron energy‐loss spectroscopy GG Fuentes, E Elizalde, F Yubero, JM Sanz Surface and Interface Analysis: An International Journal devoted to the …, 2002	142	2002
XPS analysis of down stream plasma treated wool: Influence of the nature of the gas on the surface modification of wool R Molina, JP Espinós, F Yubero, P Erra, AR Gonzalez-Elipe Applied Surface Science 252 (5), 1417-1429, 2005	124	2005
Quantitative model of electron energy loss in XPS AC Simonsen, F Yubero, S Tougaard Physical Review B 56 (3), 1612, 1997	124	1997
Non-enzymatic glucose electrochemical sensor made of porous NiO thin films prepared by reactive magnetron sputtering at oblique angles FJ García-García, P Salazar, F Yubero, AR González-Elipe Electrochimica Acta 201, 38-44, 2016	118	2016
Dielectric loss function of Si and SiO₂ from quantitative analysis of REELS spectra F Yubero, S Tougaard, E Elizalde, JM Sanz Surface and interface analysis 20 (8), 719-726, 1993	101	1993
Electronic state characterization of SiOx thin films prepared by evaporation A Barranco, F Yubero, JP Espinós, P Gröning, AR González-Elipe Journal of applied physics 97 (11), 2005	100	2005
Preparation of transparent and conductive Al-doped ZnO thin films by ECR plasma enhanced CVD A Martın, JP Espinos, A Justo, JP Holgado, F Yubero, AR González-Elipe Surface and coatings Technology 151, 289-293, 2002	94	2002
SiO2/TiO2 thin films with variable refractive index prepared by ion beam induced and plasma enhanced chemical vapor deposition F Gracia, F Yubero, JP Holgado, JP Espinos, AR Gonzalez-Elipe, ... Thin Solid Films 500 (1-2), 19-26, 2006	92	2006
Recent advances in alkaline exchange membrane water electrolysis and electrode manufacturing E López-Fernández, CG Sacedón, J Gil-Rostra, F Yubero, ... Molecules 26 (21), 6326, 2021	88	2021
Low energy ion assisted film growth A Gonzalez-elipe, JM Sanz, F Yubero World Scientific, 2003	88	2003
QUEELS software package for calculation of surface effects in electron spectra S Tougaard, F Yubero Surface and Interface Analysis: An International Journal devoted to the …, 2004	81	2004
Interface effects in the x-ray photoelectron spectra of NiO thin films grown on oxide substrates I Preda, A Gutiérrez, M Abbate, F Yubero, J Méndez, L Alvarez, L Soriano Physical Review B—Condensed Matter and Materials Physics 77 (7), 075411, 2008	77	2008
Quantification of plasmon excitations in core-level photoemission F Yubero, S Tougaard Physical Review B—Condensed Matter and Materials Physics 71 (4), 045414, 2005	77	2005
Chemical stability of species in thin films A Barranco, JA Mejıas, JP Espinos, A Caballero, AR Gonzalez-Elipe, ... Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 19 (1 …, 2001	76	2001
Synthesis of SiO2 and SiOxCyHz thin films by microwave plasma CVD A Barranco, J Cotrino, F Yubero, JP Espinós, J Benıtez, C Clerc, ... Thin solid films 401 (1-2), 150-158, 2001	73	2001
Experimental test of model for angular and energy dependence of reflection-electron-energy-loss spectra F Yubero, D Fujita, B Ramskov, S Tougaard Physical Review B 53 (15), 9728, 1996	71	1996
Chemistry and electrocatalytic activity of nanostructured nickel electrodes for water electrolysis E López-Fernández, J Gil-Rostra, JP Espinós, AR González-Elipe, ... ACS Catalysis 10 (11), 6159-6170, 2020	69	2020

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