Crea el meu perfil
Accés públic
Mostra-ho tot29 articles
46 articles
disponibles
no disponibles
Es basa en els requisits de les agències que proporcionen el finançament
Coautors
- Sung-Ik ParkPrincipal Researcher, ETRICorreu electrònic verificat a etri.re.kr
- Xianbin WangIEEE Fellow and Tier-1 Canada Research Chair, Western University, CanadaCorreu electrònic verificat a uwo.ca
- Pablo AngueiraFull Professor UPV/EHUCorreu electrònic verificat a ehu.es
- Jon Montalban SanchezDpt. Electronic TecnologyCorreu electrònic verificat a ehu.eus
- Liang ZhangCommunications Research Centre CanadaCorreu electrònic verificat a ieee.org
- Hsiao-Chun WuLouisiana State UniversityCorreu electrònic verificat a ece.lsu.edu
- Bo RongCommunications Research Centre CanadaCorreu electrònic verificat a canada.ca
- Eneko IradierUniversity of the Basque Country (UPV/EHU)Correu electrònic verificat a ehu.eus
- Sungjun AhnElectronics and Telecommunications Research Institute (ETRI)Correu electrònic verificat a etri.re.kr
- Bo LiuUniversity of Technology SydneyCorreu electrònic verificat a uts.edu.au
- David Gomez-BarqueroProfessor, Universitat Politecnica de ValenciaCorreu electrònic verificat a iteam.upv.es
- Shih Yu ChangProfessor of Applied Data Science, San Jose State UniversityCorreu electrònic verificat a sjsu.edu
- Tao JiangHuazhong University of Science and TechnologyCorreu electrònic verificat a ieee.org
- David GuerraUniversidad del País Vasco (UPV/EHU)Correu electrònic verificat a ehu.es
- Elvino S. SousaProfessor of Electrical Engineering, University of TorontoCorreu electrònic verificat a utoronto.ca
- Chen Hsiao-HwaNational Cheng Kung UniversityCorreu electrònic verificat a mail.ncku.edu.tw
- jose principeprofessor of ECE, U. of FloridaCorreu electrònic verificat a cnel.ufl.edu
- Song JianTsinghua UniversityCorreu electrònic verificat a tsinghua.edu.cn
- Gabriel-Miro Muntean, IEEE FellowProfessor, Dublin City University, PEL, INSIGHT Centre, LERO, NEWTON, TRACTION, FRADIS, HEATCorreu electrònic verificat a dcu.ie
- Athul Prasad5G / 6G Technology and Ventures at Samsung; D.Sc. (Tech), MBACorreu electrònic verificat a alum.mit.edu