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Coautores
Heng Tao SHENForeign Member of Academia Europaea, Fellow of ACM/IEEE/OSA, UESTCDirección de correo verificada de uestc.edu.cn
Fumin Shen (沈复民)University of Electronic Science and Technology of ChinaDirección de correo verificada de uestc.edu.cn
Huimin LuKyushu Institute of TechnologyDirección de correo verificada de ieee.org
Lianli GaoUESTCDirección de correo verificada de uestc.edu.cn
Jie ShaoProfessor, University of Electronic Science and Technology of ChinaDirección de correo verificada de uestc.edu.cn
Li HeQualcomm, University of Nebraska - LincolnDirección de correo verificada de qti.qualcomm.com
Atsushi ShimadaProfessor of Kyushu UniversityDirección de correo verificada de ait.kyushu-u.ac.jp
Rin-ichiro TaniguchiKyushu UniversityDirección de correo verificada de kyudai.jp
Zhang DongxiangZhejiang UniversityDirección de correo verificada de zju.edu.cn
Professor Zi (Helen) HuangUniversity of QueenslandDirección de correo verificada de itee.uq.edu.au
Hajime NagaharaProfessor of Osaka UniversityDirección de correo verificada de ids.osaka-u.ac.jp
Hideaki UchiyamaNARA Institute of Science and TechnologyDirección de correo verificada de is.naist.jp