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Coautores
- Mark BrongersmaStanford UniversityDirección de correo verificada de stanford.edu
- Bruce ClemensProfessor of Materials Science and EngineeringDirección de correo verificada de stanford.edu
- Linyou CaoNorth Carolina State University, STANFORD University, Drexel University, Peking UniversityDirección de correo verificada de alumni.stanford.edu
- Jaichan LeeProfessor of Materials Science and Engineering, Sungkyunkwan UniversityDirección de correo verificada de skku.edu
- Tae-yil EomKorea Electronics Technology InstituteDirección de correo verificada de keti.re.kr
- Srijita NundyUniversity of ExeterDirección de correo verificada de exeter.ac.uk
- Minwoo CHOSKKUDirección de correo verificada de skku.edu
- Min Chan KimJeju National UniversityDirección de correo verificada de jejunu.ac.kr
- Jeong-Suong YangSamsung Electro-MechanicsDirección de correo verificada de samsung.com
- Hyun Woo NhoHanyang UniversityDirección de correo verificada de hanyang.ac.kr
- chul-soon leeSamsung DisplayDirección de correo verificada de korea.ac.kr
- Thanh Lam NGUYENThe University of Florida in GainesvilleDirección de correo verificada de chem.ufl.edu
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Joon-Shik Park
Chief Researcher of Smart Sensor Covergence Research Center, Korea Electronics Tech. Inst.
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