Crea el meu perfil
Accés públic
Mostra-ho tot39 articles
1 article
disponibles
no disponibles
Es basa en els requisits de les agències que proporcionen el finançament
Coautors
- Thomas WatteyneInria, FranceCorreu electrònic verificat a eecs.berkeley.edu
- Joseph M. KahnProfessor of Electrical Engineering, E. L. Ginzton Laboratory, Stanford UniversityCorreu electrònic verificat a ee.stanford.edu
- JP VasseurCisco SystemsCorreu electrònic verificat a cisco.com
- Matthew LastWaymoCorreu electrònic verificat a waymo.com
- Steven LanziseraLawrence Berkeley National LaboratoryCorreu electrònic verificat a lbl.gov
- David CULLERUniversity of California, BerkeleyCorreu electrònic verificat a berkeley.edu
- Xavier VilajosanaProfessor and Researcher, Wireless Networks Research Lab, Universitat Oberta de CatalunyaCorreu electrònic verificat a uoc.edu
- Ming C. WuProfessor of Electrical Engineering and Computer Sciences, University of California, BerkeleyCorreu electrònic verificat a eecs.berkeley.edu
- Prof. David C BurnettPortland State UniversityCorreu electrònic verificat a pdx.edu
- Ezekiel KruglickArdent Research, IncCorreu electrònic verificat a ardentresearch.com
- Lih Y. LinProfessor of Electrical Engineering, University of WashingtonCorreu electrònic verificat a uw.edu
- Bernhard BoserUC BerkeleyCorreu electrònic verificat a eecs.berkeley.edu
- Filip MaksimovicPostdoc at University of California, BerkeleyCorreu electrònic verificat a berkeley.edu
- Ankur MehtaAssistant Professor of Electrical and Computer Engineering, UCLACorreu electrònic verificat a ucla.edu
- Jason Vaughn ClarkProf. of Electrical & Computer Engineering, and Mechanical EngineeringCorreu electrònic verificat a purdue.edu
- Craig B. SchindlerUniversity of California, BerkeleyCorreu electrònic verificat a berkeley.edu
- Anders BrandtNapatechCorreu electrònic verificat a napatech.com
- Osama KhanUC BerkeleyCorreu electrònic verificat a berkeley.edu
- Daniel S. DrewUniversity of UtahCorreu electrònic verificat a utah.edu
- Patrick ChuCorreu electrònic verificat a alum.mit.edu