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Coautores
Travis J. AndersonNaval Research LaboratoryDirección de correo verificada de nrl.navy.mil
Andrew D. KoehlerNaval Research LaboratoryDirección de correo verificada de nrl.navy.mil
Stephen PeartonProfessor of Materials Science and Engineering, University of FloridaDirección de correo verificada de mse.ufl.edu
Fan RenUniversity of Florida, Bell Lab, AT&TDirección de correo verificada de che.ufl.edu
C.R. Eddy, Jr.Office of Naval Research Global - LondonDirección de correo verificada de nrl.navy.mil
Michael MastroUS Naval Research LabDirección de correo verificada de nrl.navy.mil
Francis KubNaval Research LaboratoryDirección de correo verificada de ieee.org
Jiancheng Yang. PhDKeysight TechnologiesDirección de correo verificada de keysight.com
Joshua D. CaldwellVanderbilt UniversityDirección de correo verificada de vanderbilt.edu
Chaker FaresPhD. Student, University of FloridaDirección de correo verificada de ufl.edu
Patrick H Carey IVUniversity of FloridaDirección de correo verificada de ufl.edu
Jihyun KimSeoul National UniversityDirección de correo verificada de snu.ac.kr
Nadeemullah MahadikNaval Research LaboratoryDirección de correo verificada de nrl.navy.mil
Minghan XianMicron Technology; University of Florida; University of DelawareDirección de correo verificada de ufl.edu
Boris Feigelson and Boris FeygelsonU.S. Naval Research LaboratoryDirección de correo verificada de nrl.navy.mil
M. GoorskyUniversity of California, Los AngelesDirección de correo verificada de seas.ucla.edu
Jordan GreenleeMicron TechnologyDirección de correo verificada de gatech.edu
Alan G. JacobsNaval Research LaboratoryDirección de correo verificada de cornell.edu
Samuel GrahamUniversity of MarylandDirección de correo verificada de umd.edu
James GallagherNaval Research LaboratoryDirección de correo verificada de osu.edu